全自動晶圓探針臺
適應4~12寸晶圓測可提供高低溫、高電壓、低漏電等不同測試環境配置 設備簡單易用、性能穩定，具備高度、高效率、低振動和低噪聲
CP300半自動探針臺
CP300系列|300mm半自動探針臺能對晶片實現自動對位測試， 操作簡單，快捷，測試精度高，具有MAP顯示功能。 與測試儀連接后，能自動完成對各種晶體管芯的電參數測試及功能測試。
CRX-SM低溫超導真空探針臺
溫度范圍8K-300K； 應用領域包括：IV/CV/微波/光電實驗測試/超導垂直磁場測量/低溫測試； 允許非監督降溫：不需要用戶一直監視就可以降溫冷卻； 研究者可通過它來執行霍爾測量和磁輸運測量;
CRX-閉循環低溫探針臺
溫度范圍4.5K-350K； 應用領域包括：IV/CV/微波/光電實驗測試/超導垂直磁場測量/低溫測試； 允許非監督降溫：不需要用戶一直監視就可以降溫冷卻； CRX低溫探針臺無需制冷劑，樣品臺最低溫度可到4.5K；
CM-4簡易探針臺
CM系列探針臺可滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等； 外形輕盈，操作方便，價格實惠；
CS-4小型探針臺
CS系列探針臺最大可用于6英寸以內樣品測試； 可滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等。
CL-6系列中端探針臺
CL系列探針臺可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調移動； 可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復應用
CH-8-D 雙面探針臺
CINDBESTCH-8-D雙面點針探針臺可用于晶圓和PCB板測試，用于需要正面和背面同時扎針，以實現各種光/電性能測試需求的測試設備。該定制探針臺具有優良的機械系統，穩定的結構，符合人體工程學，以及多項升級功能。可廣泛應用于集成電路、Wafer，LED、LCD、太陽能電池等行業的制造和研究領域。
CH-8系列綜合性分析探針臺測試系統
最大可用于12英寸以內樣品測試； 操作便捷，功能其全，高效精準； 可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等
CH-12 綜合性分析探針臺測試系統
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